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類別：晶體顆粒高速檢測(cè)機(jī)
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CCD高速檢測(cè)分選機(jī)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)顆粒狀、粉末狀等物體雜質(zhì)混料檢測(cè)分選，分選速度快，檢測(cè)精度高，篩選干凈，特別適用于晶體、礦物質(zhì)、金屬顆粒等行業(yè)的檢測(cè)分選。
可根據(jù)行業(yè)產(chǎn)量需要，靈活選用高速、中速、低速檢測(cè)機(jī)型，適應(yīng)不同產(chǎn)量的需求。
設(shè)備簡(jiǎn)介：設(shè)備采用振動(dòng)料斗快速上料，工業(yè)相機(jī)快速檢測(cè)，一旦發(fā)現(xiàn)雜質(zhì)或者次品或者混料，達(dá)到剔除工位將會(huì)自動(dòng)剔除，效率較高，技術(shù)上屬于國(guó)內(nèi)首創(chuàng)。
采用高速先掃描相機(jī)
輸送帶式檢測(cè)機(jī)臺(tái)
長(zhǎng)度3米
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