表面缺陷檢測(cè)在光學(xué)影像篩選機(jī)檢測(cè)行業(yè)，長(zhǎng)期以來一直是個(gè)難題，要么誤檢率太高，要么容易漏檢，用戶 想用篩選設(shè)備，但是又不敢用，擔(dān)心買了篩選機(jī)又檢測(cè)不干凈。

        針對(duì)篩選行業(yè)現(xiàn)狀，邁迅威公司研發(fā)團(tuán)隊(duì)認(rèn)真聽取用戶建議，詳細(xì)了解用戶苦衷，經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的攻關(guān)研發(fā)，在表面缺陷檢測(cè)技術(shù)上取得重大突破，主要從兩個(gè)方面來解決問題的。

       光源選型及特殊光源設(shè)計(jì)層面，必須要根據(jù)缺陷類型選擇或者設(shè)計(jì)出合適的光源，才能拍出適合檢測(cè)的圖像信息，便于后續(xù)識(shí)別分析；

       軟件算法分析層面，再好的圖像效果，如果算法不給力也不能很好的檢測(cè)出缺陷，近年來我公司軟件研發(fā)團(tuán)隊(duì)不斷的將深度學(xué)習(xí)等先進(jìn)思想融合進(jìn)軟件里邊，使軟件功能更強(qiáng)大，更智能。

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